光学波前分析系统

      |      2019-06-06

                               

法国PHASICS公司的波前分析仪是基于有专利-四波横向剪切干涉技术研发而成,比于传统的沙克-哈特曼波前传感器具有高分辨率消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等优势。为激光光束测量光学镜头波前畸变检测、光学系统波前像差校正及材料微观相位信息检测等提供了全新的解决方案!

       图片1.png                 图片2.png                    图片3.png                       

关键词:波前传感器、波前分析仪、波前探测器、波前测量仪、激光光束分析仪、沙克-哈特曼技术传函仪、干涉仪、镜头MTFPSF、曲率半径、M2

 

 

法国PHASICS公司具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供各种制定个性化解决方案自适应光学循环系统OA-SYS多波长激光干涉仪,高精度传函仪。可根据客户的应用需求,为客户推荐合适的SID4波前分析仪多波长干涉仪、自适应光学系统微观材料相位分析仪及相关操作软件。

图片4.png 

 

PHASICS波前分析仪根据其四波横向剪切干涉技术,对沙克-哈特曼掩模技术进行了大幅度的升级、改进。PHASICS波前分析仪400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起可以满足不同客户的应用需求

图片5.png

 

图片6.png 

                                 四波剪切干涉分析原理图

我们有多种软件选择来匹配不同的测量分析需求,您可以使用同一款波前分析仪+不同软件来测量您的激光光束、光学镜头、镜片及光学系统。下图为实际测量界面,您可以从图中直观的获得您所要测量的激光相位、强度等信息,整个测量过程非常简便、快捷。

 

实际测量

本产品针对激光强度位相M2曲率半径、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差泽尼克函数、远场参数等进行实时、简便、快捷的测量测量界面如下所示:

图片7.png 

激光光束强度相位图

 

图片8.png 

                             激光光束测量参数表

 

图片9.png

                 光学元件测量分析图

 

产品介绍

Phasics公司波前分析仪测量范围从紫外覆盖到远红外波段,包含有激光光束、光学元器件测量、真空环境光学测量、等离子测量、微观测量等系列产品。

图片10.png图片11.png    图片12.png

波前分析仪产品参数表

型号/参数

SID4

SID4-HR

SID4-DWIR

SID4-SWIR

SID4-NIR

SID4-UV

SID4-UV-HR

入光孔镜mm

3.6X4.8

8.9X11.8

13.44X10.08

9.6X7.68

3.6X4.8

7.4X7.4

8.0X8.0

空间分辨率um

29.6

29.6

68

120

29.6

29.6

32

采样点

160X120

400X300

160X120

80X64

160X120

250X250

250X250

波长范围

400~1100nm

400~1100nm

3~5um

8~14um

0.9~1.7um

1.5~1.6um

250~450nm

190~400nm

采样速度fps

60

10

50

60

60

30

30

处理速度fps

10

3

20

10

10

2

1

更多产品资料及细节产品参数请您前往:恭科官网-产品中心-波前分析设备,  

http://www.gkopt.com/浏览下载